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WY2858系列 介电常数测试仪（阻抗分析仪法）
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WY2858系列介电常数测试仪由阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对各种薄膜
（10μm-200μm）,板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗(D) 的测试。
它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
WY2858系列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～1MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介
电常数(ε)和介质损耗 (D)变化的测试，并可以联机电脑显示曲线。
WY2858系列中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析
仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器Cp（电容值）读数乘
以样品厚度值得到介电常数，介质损耗值可以直读。
1 特点：
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◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。
◎ 介电常数测量范围可达1～105
2 主要技术指标：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～5MHz的ε和D变化的测试。
2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D测量精度（100kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高频阻抗分析仪和数字电桥
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型号
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WY2817A
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WY2818A
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工作频率范围
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30Hz～200kHz（39个频点）
精度：±0.02%
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20Hz～1MHz
数字合成，精度：±0.02%
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电容测量范围
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0.0001pF～99.99mF
五位数显
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0.00001pF～9.99999F
六位数显
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电容测量基本误差
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±0.05%
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±0.05%
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损耗因素D值范围
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0.0001～9.9999
五位数显
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0.00001～9.99999
六位数显
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2.3 WY916B 介电常数测试装置（含保护电极）
2.3.1 平板电容器极片尺寸：Φ5mm，Φ38mm和Φ50mm三种可选.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3 插头间距：与阻抗分析仪四端配合
2.3.4 加温控温装置(选购设备)可以完成最高200℃控温精度l℃加热测试。
 2.4 16451B进口介电常数测试装置提供四种不同直径测试电极，能对直径φ10～56mm，
厚度<10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接
触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。
2.4.1 微分头分辨率：10μm
2.4.2 最高耐压：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 电缆长度设置：1m
2.4.4 最高使用频率：30MHz
2.5 高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质
样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚
1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。
2.6 WY2858系列 介电常数测试仪配置
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配置类型
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普及型
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标准型
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精密型
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电桥工作频率范围
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100Hz～100kHz
精度：±0.02%
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20Hz～1MHz
精度：±0.02%
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20Hz～1MHz
精度：±0.02%
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配置型号
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WY2817A数字电桥
+WY916B测试装置
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WY2818系列阻抗分析仪
+WY916B固体（或液体或薄膜）
测试装置
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WY2818系列阻抗分析仪
+WY918精密测试装置
（能适宜各种样品）
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介电常数范围
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1-1000
精度：±5%
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1-10000
精度：±2%
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1-10000
精度：±2%
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损耗因素D值范围
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0.0001～9.9999
四位数显
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0.00001～9.99999
六位数显
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0.00001～9.99999
六位数显
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